全國(guó)服務(wù)咨詢熱線:
15618996225
15618996225
當(dāng)前位置：首頁(yè) > 產(chǎn)品中心 > 激光調(diào)制與測(cè)量 > 光學(xué)測(cè)量設(shè)備 > SIT-200硅片厚度測(cè)量?jī)x
簡(jiǎn)要描述：硅片厚度測(cè)量?jī)xSIT-200由精確可調(diào)激光光源，聚焦傳感器，光學(xué)接收器組成。波長(zhǎng)掃描光聚焦照射到目標(biāo)上，由目標(biāo)表面和背面反射光干涉形成干涉圖案，經(jīng)過聚焦傳感器后由光學(xué)探測(cè)器進(jìn)行檢測(cè)。
產(chǎn)品型號(hào)：SIT-200更新時(shí)間：2025-03-12訪 問 量：1105產(chǎn)品分類
Product classification產(chǎn)品簡(jiǎn)介
| 品牌 | 其他品牌 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 組件類別 | 其他 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子/電池 |
詳細(xì)介紹
硅片厚度測(cè)量?jī)xSIT-200
硅片厚度測(cè)量?jī)x（SIT-200）由精確可調(diào)激光光源，聚焦傳感器，光學(xué)接收器組成。波長(zhǎng)掃描光聚焦照射到目標(biāo)上，由目標(biāo)表面和背面反射光干涉形成干涉圖案，經(jīng)過聚焦傳感器后由光學(xué)探測(cè)器進(jìn)行檢測(cè)。
硅片厚度測(cè)量?jī)xSIT-200產(chǎn)品特點(diǎn)：
l 全光學(xué)，非接觸硅片厚度測(cè)試
l 高動(dòng)態(tài)范圍測(cè)量粗糙表面
l 濕法刻蝕過程中實(shí)時(shí)測(cè)量
高靈敏度 高精度 快速測(cè)量 遠(yuǎn)程控制
結(jié)構(gòu)示意圖
SIT-200
產(chǎn)品參數(shù)：
測(cè)量目標(biāo) | 硅片 |
測(cè)量厚度 | 10-500μm |
光源 | 1515-1585nm掃描 |
功率 | 0.6mw，Class1 |
指示光源 | 紅光，Class1M |
測(cè)量時(shí)間 | 20ms |
重復(fù)性 | 0.1μm |
輸出監(jiān)控 | 干擾信號(hào)（電學(xué)） |
PC接口 | 網(wǎng)口 |
供電 | 100-240V，50/60Hz |
尺寸 | 364 x 147 x 391mm |
重量 | 9kg |
產(chǎn)品咨詢
全國(guó)統(tǒng)一服務(wù)電話
021-62209657
電子郵箱：sales@eachwave.com
公司地址：上海市閔行區(qū)劍川路955號(hào)707-709室
業(yè)務(wù)咨詢微信
